Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, ISD process, surface, microstructure, substrate Hastelloy, PLD process, thickness dependence, angular dependence, fabrication
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Kitoh Y.
Specht E.D., Holesinger T.G., Christen D.K., List F.A., Gapud A.A., Feldmann D.M., Feenstra R.(feenstrar@ornl.gov)
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C., Murugesan M., Bagarinao K.D.(kathy@ni.aist.go.jp)
Tojo F.(ftojo@ele.kindai.ac.jp), Hirakawa S., Toyoda T., Yamagata K., Omura A., Maeji Y., Itoh M.
Ключевые слова: insulation coating, thickness dependence, magnetic sensors, measurement technique, errors
Jo W.(wmjo@ewha.ac.kr), Hammond R.H., Beasley M.R.
Gianni L., Zannella S., Botta D., Ghigo G., Gozzelino L., Mezzetti E., Laviano F.(laviano@polito.it), Gerbaldo R.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.